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高橋 知之*; 武田 聖司; 木村 英雄
JAERI-Data/Code 2000-041, 108 Pages, 2001/01
原子炉施設等から発生する放射性廃棄物のうち、放射性核種濃度が極めて低いために、それに起因する線量が自然界の放射線レベルに比較して十分に小さく、人の健康へのリスクが無視できるものであれば、当該物質を放射性物質としての規制管理からはずすことが考えられている。この行為をクリアランスといい、その核種濃度をクリアランスレベルという。原子力安全委員会のクリアランスレベル導出にあたっては、パラメータ値に平均的な値あるいは保守的な値に対する決定論的手法が用いられた。また、決定論的手法により導出されたクリアランスレベルの妥当性を確認するため、あわせて確率論的解析を実施した。この解析を行うため、モンテカルロ法による確率論的解析コードシステムPASCLRを開発した。本報告書は、PASCLRコードの構成及び使用法について記述したものである。
佐藤 努*; 岡田 朋子*; 飯田 芳久; 山口 徹治; 中山 真一
Clay Science for Engineering, p.593 - 598, 2001/01
イオン交換水、NaOH溶液及びNaCl溶液の添加によるベントナイトの構造変化についてESEMを用いて観察した。NaOHを用いた試験でのみ亀裂の生成が観察され、添加量が増すにつれ亀裂は細孔へと広がった。細孔中の溶液中には、Na, OだけでなくSiも含有されていることがEDXスペクトルにより示された。これらの観察によって、ベントナイト中のSiを含む構造(アモルファスシリカと考えられる)は、極めて少量のNaOHと反応して溶解し、ベントナイト中に細孔が生成することが示された。